Структура

Научно-аналитическая деятельность ЦКП «Аналитическая спектроскопия» основана на является центром коллективного пользования распределенного типа, структуру которого образуют следующие лаборатории:

1. Лаборатория структурного анализа.
2. Лаборатория оптической и лазерной спектроскопии.
3. Лаборатория физико-химических методов анализа.
4. Лаборатория молекулярной биологии.
5. Лаборатория экологического мониторинга.
6. Лаборатория синтеза полупроводниковых наноматериалов и тонких пленок.


Лаборатория структурного анализа
Вид деятельности:
Деятельность лаборатории структурного анализа связана изучением закономерности формирования, особенности структуры, строения и состава нанопорошков, нанокристаллических и тонкопленочных структур на основе широкозонных оксидов и нитридов, а так же многокомпонентных сегнетопьезокерамических материалов различного состава с использованием методов зондовой микроскопии, лазерной конфокальной и электронной растровой микроскопии, рентгеновской дифрактометрии и флуориметрии и оптической спектрометрии.

Приборная база лаборатории:

1. Исследовательский комплекс зондовой и лазерной конфокальной микроскопии Ntegra Spectra
(ЗАО «НТИ», Россия), предназначенный для выполнения комплексного анализа рельефа, электрофизических свойств, структуры и химического состава различных органических, биоорганических и неорганических веществ с использованием методов атомно-силовой и туннельной сканирующей микроскопии в сочетании с конфокальной оптической, рамановской и флуоресцентной микроскопией.



2. Рентгеновский дифрактометр Empyrean (PANalytical B.V., Нидерланды) является многоцелевым исследовательским комплексом рентгеноструктурного анализа с вертикально расположенным гониометром высокого разрешения с минимальным шагом отслеживания позиции – 0.0001°, что в совокупности с уникальным трехмерным детектором позволяет применять технологию «томографического» сканирования образца, позволяющая «просвечивать» его в любой плоскости и отображать трехмерную проекцию внутренней структуры объекта.



3. Сканирующий электронный растровый микроскоп-микроанализатор Aspex ExPress VP (FEI, США) сочетает в себе аналитические возможности электронной растровой микроскопии и энерго-дисперсионного микроанализатора, позволяющая исследовать как проводящие, так и непроводящие образцы с пространственным разрешением до 25 нм и диапазоном определяемых микроэлементов от B до U, что делает этот прибор незаменимым для рутинного экспресс-анализа.



4. Рентген-флуоресцентный спектрометр EDX-800 HS (Shimadzu, Япония) предназначен для быстрого неразрушающего определения качественного и количественного элементного состава от 6C до 92U в твёрдых и жидких образцах, порошках, гранулах, пластинах, плёнках, а также для определения состава и толщины покрытий. В комплекс е со специальным программным обеспечением данный прибор в металлургии, машиностроении, сельском хозяйстве и пищевой промышленности, геологии, экологии, химии и т.п.



5. Спектрометрический комплекс МДР-41 (ЗАО «ОКБ СПЕКТР», РФ) в комплексе с азотным проточным криостатом OptCryo198 (ЗАО «РТИ, технологии, приборы, материалы», РФ) позволяет исследовать оптические и флуоресцентные свойства различных органических и неорганических веществ в спектральном диапазоне длин волн 200-25000 нм со спектральным разрешением не хуже 0.1 A при температуре 77 К и давлении 10-6 мм.рт.ст.



6. Учебно-научная лаборатория зондовой микроскопии на базе двух микроскопов NanoEducator-2 (ЗАО «НТИ», Россия) предназначена для проведения практических и лабораторных занятий бакалавров старших курсов и магистров, специализирующихся в области технологии наносистем и наноматериалов.



Материально-техническая база:

Лаборатория структурного анализа размещается в четырех лабораторных помещениях общей площадью 104 кв. м., инженерное состояние которых соответствует требованиям, предъявляемым к эксплуатации высокоточного научного оборудования. В частности, лабораторные помещения имеют высокостабилизированное электропитание, раздельное двухконтурное заземление, водопровод, канализация, тепло, кондиционирование, вентиляция, водяное охлаждение, интернет, телефон.

Методики исследования:

- комплекс методик рентген-флуоресцентного качественного/ количественного анализа химических элементов в диапазоне от 6С (углерода) до 92U (урана) для обеспечения оценки качества, анализа состава и дефектов, а так же оптимизации технологий получения полупроводников для элементной базы оптоэлектроники, люминесцентных и светодиодных наноматериалов, объемных моно- и поликристаллов, тонких пленок, керамики и композитных материалов.

- комплекс методик измерения механических, морфологических, элементных, электрических и магнитных свойств различных перспективных наноструктурированных материалов, объемных моно-, поликристаллов и тонких пленок, а так же керамических и композитных материалов на основе методов АСМ и лазерной конфокальной КР и флуоресцентной микроскопии.

- комплекс методик исследования морфологии различных геологических и биологических объектов, кинетики роста и поверхностных свойств тонкопленочных структур, качественное/количественное определение химического состава тонких слоев геологических, биологических и других объектов с использованием растровой электронной микроскопии и микрозондового энерго-дисперсионного анализа.

- комплекс методик рентгеноструктурного анализа кристаллических и порошковых веществ, включающий качественный/количественный фазовый анализ наноструктурированных моно- и поликристаллов, композитных и керамических материалов; определение концентраций в смешанных фазах, постоянной кристаллической решетки, определение внутренних напряжений и деформаций решетки, области когерентного рассеяния, анализа текстуры и 3D-проекций внутренней структуры веществ.

- комплекс методика исследования спектров поглощения и фотолюминесценции кристаллических материалов, композитных, керамических и многокомпонентных структур и полимеров диапазоне длин волн 200-25000 нм в температурном интервале 77-300 К и давлении 10-6 мм.рт.ст.

Документы

Полезные ссылки